要配合現(xiàn)今功能日趨復(fù)雜的IC晶片，需要具備功 能強(qiáng)大而且多樣化的測試系統(tǒng)。為了達(dá)成具成 本效益的測試解決方案，必須藉由降低測試時(shí) 間和整體成本來達(dá)成，而非只是簡單地減少測 試系統(tǒng)的價(jià)格而已。
雖然半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)是一個(gè)變化快速的產(chǎn)業(yè)，但其 資產(chǎn)設(shè)備應(yīng)建立在可符合長時(shí)間需求的設(shè)備之 上。
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